商品介绍

AFM 原子力显微镜

累积了20年的经验,法国CSI研发了这款高性能AFM "Nano-Observer"
Nano_Observer AFM 可以提供所有测量模式,且同时适用于高级的应用,具有市面上最强的竞争力及性价比!!

各种应用:

  • 半导体
  • 金属
  • 光伏
  • 薄膜&涂层
  • 蛋白质
  • DNA
  • 高分子聚合物






规 格:
    
XY scan range 100 μm (tolerance +/- 10%)
Z range 10 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mv="" rms0="" 01="" span="">0.01


多种模式及功能

除了高性能,Nano-Observer同时拥有多种先进的模式,可以扩大你的研究领域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外,还有多种模式可用於表徵机械粘弹性、样品表面附著力,以及分析电特性(CAFM,ResiScopeTM)、电场(EFM)和磁场(MFM)和表面电位(标准KFMHD-KFMTM)。另外8通道即时成像可提高分析能力。


Nano-Observer具有强大的多功能性:

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先进的扫描平台 - 高解析率度

Nano-Observer使用了一个先进的扫描平台,以避免众所周知的压电陶瓷管扫描器的缺陷,如弓效应,X-Y串扰等。低杂讯的回馈控制提供了可靠性和高性能。将具有三个独立低压压电器件的平板扫描器安装在一个平台上,并结合低杂讯的镭射和电子系统,可在原子尺度上实现高解析度测量。

Topography-measurement-of-C36-alkane-deposit-on-HOPG.-Oscillating-mode.-Scan-size-250x250-nm-Nano-Observer-AFM.png
C36, oscillation mode, 250nm


智慧型处理器 - 高品质测量

通过一个智慧型类比&数位处理器,每个信号得到增强以避免额外的杂讯; 并同时执行高速的回馈。扫描器是由24位元D/A转换器控制,为AFM提供高精度的扫描。内置锁相器进行精确的形貌、相位或MFM/EFM/KFMPFM测量,加上低杂讯的电子系统可获得高解析度的图像和力谱。

Topography-measurement-on-DNA-deposit-on-mica.-Oscillating-mode.-Scan-size-1x1-micron-Nano-Observer-AFM.png

DNA, oscillating mode, 800nm


AFM原子力显微镜 1174433