商品介绍

AFM 原子力显微镜

累积了20年的经验及法国Supélec技术支援,法国CSI研发了这款高性能AFM "Nano-Observer"
Nano_Observer AFM 可以提供所有测量模式,且同时适用于高级的应用,具有市面上最强的竞争力及性价比!!

各种应用:

  • 半导体
  • 金属
  • 光伏
  • 薄膜&涂层
  • 蛋白质
  • DNA
  • 高分子聚合物

 






多种模式及功能

 

除了高性能,Nano-Observer同时拥有多种先进的模式,可以扩大你的研究领域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外,还有分析电特性(CAFM)、电场(EFM)和磁场(MFM)和表面电位(HD-KFM)。


Nano-Observer具有强大的多功能性:

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独家高解析率度凯尔文模式 ( HD-KFM )

传统的KFM使用抬升模式及两次扫描技术,损失扫描画面的解析度及些许微小讯号。
Nano-Observer使用了独特的高解析单次扫描技术,加强画面解析度并且更能精准探测样品的表面电位。

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            standard KFM                   HD-KFM with Nano-Observer

 

独家电子量测工具 Resiscope TM

  • 全球最佳AFM电特性测量系统
  • 防止样品及探针在高电流量测下损坏
  • 低电流、高解析度、高灵敏度
  • 更有效量测材料多重表徵及内部特性

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        Topography in AC mode                           HD-KFM                                     Resiscope

先进的扫描平台 - 高解析率度

Nano-Observer使用了一个先进的扫描平台,以避免众所周知的压电陶瓷管扫描器的缺陷,如弓效应,X-Y串扰等。
低杂讯的回馈控制提供了可靠性和高性能。将具有三个独立低压压电器件的平板扫描器安装在一个平台上,并结合低杂讯的镭射和电子系统,可在原子尺度上实现高解析度测量。

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C36, oscillation mode, 250nm


上 / 侧边视角变换

Nano-Observer可利用上/侧边方向视角变换,观察样品与探针的接触,帮助探针/样品更简单接触,防止探针/样品受损

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                              Top View                                                                                 Side View

 

DNA, oscillating mode, 800nm



规 格:
    
XY scan range 100 μm (tolerance +/- 10%)
Z range 10 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mv="" rms0="" 01="" span="">0.01

 

 

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