商品介绍

ResiScope TM II

累积了20年的经验及法国Supélec技术支援,法国CSI研发了这款ResiScopeTM II,全球最佳AFM电特性测量系统
ResiScopeTM II 可以提供所有电特性测量模式,利用材料电阻特性,测量出更多潜在材料表徵!

ResiScopeTM II
  • 全球最佳AFM电特性测量系统
  • 防止样品及探针在高电流量测下损坏
  • 低电流、高解析度、高灵敏度
  • 更有效量测材料多重表徵及内部特性
应用
  1. 材料、金属、聚合物
  2. 半导体
  3. 光伏电池

太阳能电池样品

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                              Topography                                                                         ResiScope

半导体 - 内部掺杂

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          Resistance Image of a PMOS-transistor                           Resistance Image of  n-type « burried » layer  -  cleaved trench


KFM - 搭配ResiScopeTM II ( 扫描同区块 )

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                Topography in AC mode                                          KFM                                               ResiScopeTM II

聚合物材料

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      Resistance – 1µm scan – Complex alloy grains study
AFM原子力显微镜 1235067