相關原理

EFM (Electrostatic Force Microscope) 靜電力顯微鏡 操作原理

EFM(Electrostatic Force Microscope) 靜電力顯微鏡 屬於AFM非接觸模式

使用電性針頭掃描樣品來紀錄表面形貌,
當探針經過樣品同時記錄樣品表面上電場對探針共振頻率所抵銷的相位訊號
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