商品介紹

AFM 原子力顯微鏡

累積了20年的經驗,法國CSI研發了這款高性能AFM "Nano-Observer"
Nano_Observer AFM 可以提供所有測量模式,且同時適用于高級的應用,具有市面上最強的競爭力及性價比!!

各種應用:

  • 半導體
  • 金屬
  • 光伏
  • 薄膜&塗層
  • 蛋白質
  • DNA
  • 高分子聚合物






規 格:
    
XY scan range 100 μm (tolerance +/- 10%)
Z range 10 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mv="" rms0="" 01="" span="">0.01


多種模式及功能

除了高性能,Nano-Observer同時擁有多種先進的模式,可以擴大你的研究領域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外,還有多種模式可用於表徵機械粘彈性、樣品表面附著力,以及分析電特性(CAFM,ResiScopeTM)、電場(EFM)和磁場(MFM)和表面電位(標準KFMHD-KFMTM)。另外8通道即時成像可提高分析能力。


Nano-Observer具有強大的多功能性:

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先進的掃描平台 - 高解析率度

Nano-Observer使用了一個先進的掃描平台,以避免眾所周知的壓電陶瓷管掃描器的缺陷,如弓效應,X-Y串擾等。低雜訊的回饋控制提供了可靠性和高性能。將具有三個獨立低壓壓電器件的平板掃描器安裝在一個平臺上,並結合低雜訊的鐳射和電子系統,可在原子尺度上實現高解析度測量。

Topography-measurement-of-C36-alkane-deposit-on-HOPG.-Oscillating-mode.-Scan-size-250x250-nm-Nano-Observer-AFM.png
C36, oscillation mode, 250nm


智慧型處理器 - 高品質測量

通過一個智慧型類比&數位處理器,每個信號得到增強以避免額外的雜訊; 並同時執行高速的回饋。掃描器是由24位元D/A轉換器控制,為AFM提供高精度的掃描。內置鎖相器進行精確的形貌、相位或MFM/EFM/KFMPFM測量,加上低雜訊的電子系統可獲得高解析度的圖像和力譜。

Topography-measurement-on-DNA-deposit-on-mica.-Oscillating-mode.-Scan-size-1x1-micron-Nano-Observer-AFM.png

DNA, oscillating mode, 800nm


AFM原子力顯微鏡 1174433