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CX-200plus 掃描式電子顯微鏡

通過簡潔的設計和軟件Nano-station 4.0,用戶可以輕鬆使用掃描式電子顯微鏡CX-200PLUS。

CX-200plus機台特色 

  • 簡潔而強大的性能
  • 3nm解析度
  • 標準SE,BSE檢測器
  • 標準樣品槽
  • 全景攝影功能
  • 信號影像融合
  • 完全兼容的EDS
  • 10個第三方端口


Nanostation 4.0(COXEM SEM專用軟件)

NS 4.0為COXEM SEM的操作提供了最直觀、最方便的UI(使用者界面)。
NS 4.0不僅是為經驗豐富的SEM使用者設計的,也是為首次使用的使用者設計的。
COXEM的Nano-station軟件可以輕鬆地與鼠標和鍵盤配合使用,並且可以通過“自動功能”功能減少使用者直接操作的不便。此外,全景拍攝功能通過消除使用者直接控制相機,長時間移動和拍攝的麻煩,而可以自動捕獲圖像所需部分的數十張或數百張照片。搭載雙顯示模式,讓使用者可同時能看到SE,BSE模式。

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BSE感測器

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樣品槽影像

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全景攝影

NanoStation4.0將數百張甚至數千張的SEM影像,合併成一張完整且接合完美的全景影像。
此功能可以讓使用者在高解析度下看到更大的範圍。


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BSE & SE 融合影像


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CX-200plus規格

Resolution SE 3.0nm at 30kV / 8.0nm at 3kV
Resolution BSE 4.0nm at 30kV
Magnification x15 to x300,000
Digital Zoom x2, x4
Acceleration Voltages 1 to 30kV
Maximum Specimen Size 160mm in Diameter
X,Y,Z,R,T X : 0~60mm
Y : 0~60mm
Z : 5~60mm
R : 360º
T : -20~90º
Detector SED / BSED
Control Mouse / Keyboard
Auto Alignment Auto Beam
Observation Area 130mm in Diameter
Maximum Height 55mm
Stage Control Eccentric
Source Tungsten
SEM掃描式電子顯微鏡 1290288