商品介紹
  • AFM 原子力顯微鏡

    累積了20年的經驗及法國Supélec技術支援,法國CSI研發了這款高性能AFM "Nano-Observer"
    Nano_Observer AFM 可以提供所有測量模式,且同時適用于高級的應用,具有市面上最強的競爭力及性價比!!


  • ResiScope TM II

    累積了20年的經驗及法國Supélec技術支援,法國CSI研發了這款ResiScopeTM II,全球最佳AFM電特性測量系統
    ResiScopeTM II 可以提供所有電特性測量模式,利用材料電阻特性,測量出更多潛在材料表徵!