各種應用：

• 半導體
• 金屬
• 光伏
• 薄膜&塗層
• 蛋白質
• DNA
• 高分子聚合物

 

多種模式及功能

 

除了高性能，Nano-Observer同時擁有多種先進的模式，可以擴大你的研究領域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外，還有分析電特性(CAFM)、電場(EFM)和磁場（MFM）和表面電位（HD-KFM）。

Nano-Observer具有強大的多功能性：

獨家高解析率度凱爾文模式 ( HD-KFM )

傳統的KFM使用抬升模式及兩次掃描技術，損失掃描畫面的解析度及些許微小訊號。
Nano-Observer使用了獨特的高解析單次掃描技術，加強畫面解析度並且更能精準探測樣品的表面電位。

         
            standard KFM                   HD-KFM with Nano-Observer

 

獨家電子量測工具 Resiscope TM

• 全球最佳AFM電特性測量系統
• 防止樣品及探針在高電流量測下損壞
• 低電流、高解析度、高靈敏度
• 更有效量測材料多重表徵及內部特性

        Topography in AC mode                           HD-KFM                                     Resiscope

先進的掃描平台 - 高解析率度

Nano-Observer使用了一個先進的掃描平台，以避免眾所周知的壓電陶瓷管掃描器的缺陷，如弓效應，X-Y串擾等。
低雜訊的回饋控制提供了可靠性和高性能。將具有三個獨立低壓壓電器件的平板掃描器安裝在一個平臺上，並結合低雜訊的鐳射和電子系統，可在原子尺度上實現高解析度測量。

上 / 側邊視角變換

Nano-Observer可利用上/側邊方向視角變換，觀察樣品與探針的接觸，幫助探針/樣品更簡單接觸，防止探針/樣品受損。

                              Top View                                                                                 Side View

 

DNA, oscillating mode, 800nm