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商品介紹未分類AFM 原子力顯微鏡

AFM 原子力顯微鏡

各種應用:

  • 半導體
  • 金屬
  • 光伏
  • 薄膜&塗層
  • 蛋白質
  • DNA
  • 高分子聚合物

 






多種模式及功能

 

除了高性能,Nano-Observer同時擁有多種先進的模式,可以擴大你的研究領域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外,還有分析電特性(CAFM)、電場(EFM)和磁場(MFM)和表面電位(HD-KFM)。


Nano-Observer具有強大的多功能性:


獨家高解析率度凱爾文模式 ( HD-KFM )

傳統的KFM使用抬升模式及兩次掃描技術,損失掃描畫面的解析度及些許微小訊號。
Nano-Observer使用了獨特的高解析單次掃描技術,加強畫面解析度並且更能精準探測樣品的表面電位。

         
            standard KFM                   HD-KFM with Nano-Observer

 

獨家電子量測工具 Resiscope TM

  • 全球最佳AFM電特性測量系統
  • 防止樣品及探針在高電流量測下損壞
  • 低電流、高解析度、高靈敏度
  • 更有效量測材料多重表徵及內部特性


        Topography in AC mode                           HD-KFM                                     Resiscope

先進的掃描平台 - 高解析率度

Nano-Observer使用了一個先進的掃描平台,以避免眾所周知的壓電陶瓷管掃描器的缺陷,如弓效應,X-Y串擾等。
低雜訊的回饋控制提供了可靠性和高性能。將具有三個獨立低壓壓電器件的平板掃描器安裝在一個平臺上,並結合低雜訊的鐳射和電子系統,可在原子尺度上實現高解析度測量。


C36, oscillation mode, 250nm


上 / 側邊視角變換

Nano-Observer可利用上/側邊方向視角變換,觀察樣品與探針的接觸,幫助探針/樣品更簡單接觸,防止探針/樣品受損


                              Top View                                                                                 Side View

 

DNA, oscillating mode, 800nm



規 格:
    
XY scan range 100 μm (tolerance +/- 10%)
Z range 10 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mv="" rms0="" 01="" span="">0.01