針對高溫量測設計,  
可抽真空及通入氣體控制樣品氧化,
可客製更高溫度或更大樣品尺寸

• 自動分析: 靜態接觸角分析
• 接觸角量測範圍：0° ~ 180°, 精確度：±1°
• 加熱溫度: 多段式PID溫度控制, 最高可加熱至1750℃.
• 光學系統: 特殊高倍變焦, USB CCD (70 張/秒)