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原子力顯微鏡3
https://www.amtech.com.tw/en/custom_84278.html AFM - Soft Intermittent Contact mode 原理 AFM - Soft Intermittent Contact mode 原理 Soft Intermittent Contact原理當尖端到達樣品量測位置時, 尖端與表面分開一定安全距離後,快速移動到下一個量測點 (下一點距離由圖像的像素數決定) ,當她碰到尖端後停止並且直些力譜曲線來描述點位,而量測點的最大受力數值,其行為模式相似接觸模式,其中SIC mode的優點是避免接觸模式中常會因為在掃描時附著力的改變所造成的不穩定,藉由安全距離高於附著力,使針頭可以完全脫離表面來量測樣品的附著力。既使軟性探針也可以使用此模式。然而軟硬度和附著力可以在每個測量點下量測,軟硬度 (即受立即樣品變形的比值) 可以使用Soft Meca software去計算Young modulus。 
https://www.amtech.com.tw/en/custom_80403.html 原子力顯微鏡 - 基本原理 原子力顯微鏡 - 基本原理                      AFM工作原理     AFM是由Binnig等人於1986年所發明的,具有原子級解像能力,可應用於多種材料表面檢測,並能在真空、氣體或液體環境中操作。     AFM的關鍵組成部分是一個頭上帶有一個用來掃描樣品表面的尖細探針的微觀懸臂。這種懸臂大小在數十至數百微米,通常由矽或者氮化矽構成,其上載有探針,探針之尖端的曲率半徑則在奈米量級。當探針被放置到樣品表面附近的地方時,懸臂上的探針頭會因為受到樣品表面的力而遵從虎克定律彎曲偏移。     在不同的情況下,這種被AFM測量到的力可能是機械接觸力、范德華力、毛吸力、化學鍵、取向力、靜電力、磁力(見磁力顯微鏡)卡西米爾效應力、溶劑力等等。如圖一                                                                   圖一、原子間作用力不同其之間能量表示也不同     通常,偏移會由射在微懸臂上的雷射束反射至光敏二極體陣列而測量到,較薄之懸臂表面常鍍上反光材質(如鋁)以增強其反射。其他方法還包括光學干涉法、電容法和壓電效應法。這些探頭通常由採用壓電效應的變形測量器而製得。通過惠斯登電橋,探頭的形變可以被測得,不過這種方法沒有雷射反射法或干涉法靈敏。          AFM可以在不同模式下運行。這些模式可以被分為靜態模式(Static Mode,也稱接觸模式,Contact Mode),或其他一系列動態模式(Dynamic Mode,如非接觸模式(Non-Contact Mode)、輕敲模式(Tapping Mode)、側向力(Lateral Force Mode)模式)。取自維基百科
https://www.amtech.com.tw/en/custom_81215.html CAFM - Conductive AFM 導電式原子力顯微鏡 CAFM - Conductive AFM 導電式原子力顯微鏡 CAFM (導電式原子力顯微鏡)  操作原理CAFM (Conductive AFM) 屬於AFM接觸模式使用導電性針頭掃描樣品來紀錄表面形貌,並利用導電性探針及內部放大器紀錄表面電流變化,電流/電壓曲線可以在樣品的區域上被探測
https://www.amtech.com.tw/en/custom_81212.html EFM - Electrostatic Force Microscope 靜電力顯微鏡 EFM - Electrostatic Force Microscope 靜電力顯微鏡 EFM (靜電力顯微鏡) 操作原理EFM(Electrostatic Force Microscope) 靜電力顯微鏡 屬於AFM非接觸模式使用電性針頭掃描樣品來紀錄表面形貌,當探針經過樣品同時記錄樣品表面上電場對探針共振頻率所抵銷的相位訊號
https://www.amtech.com.tw/en/custom_81213.html MFM - Magnetic Force Microscope 磁力式顯微鏡 MFM - Magnetic Force Microscope 磁力式顯微鏡 MFM (磁力式顯微鏡) 操作原理MFM ( Magnetic Force Microscope ) 磁力式顯微鏡 屬於AFM非接觸模式使用磁性針頭掃描樣品來紀錄表面形貌,當探針經過樣品同時記錄樣品表面上磁力對探針共振頻率所抵銷的相位訊號
https://www.amtech.com.tw/en/custom_81216.html PFM - Piezoresponse Force Microscope 壓電力顯微鏡 PFM - Piezoresponse Force Microscope 壓電力顯微鏡 PFM (壓電力顯微鏡) 操作原理PFM (Piezoresponse Force Microscope) 壓電力顯微鏡 屬於AFM接觸模式使用導電性針頭掃描樣品來紀錄表面形貌,並利用導電性探針紀錄表面因為壓電效應所產生的電性頻率,壓電特性圖成像利用壓電效應所產生的電性頻率跟AC交流電頻率所抵銷的相位訊號差