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相关原理
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原子力显微镜 3
https://www.amtech.com.tw/cn/custom_84278.html AFM - Soft Intermittent Contact mode 原理 AFM - Soft Intermittent Contact mode 原理 Soft Intermittent Contact原理当尖端到达样品量测位置时, 尖端与表面分开一定安全距离后,快速移动到下一个量测点 (下一点距离由图像的像素数决定) ,当她碰到尖端后停止并且直些力谱曲线来描述点位,而量测点的最大受力数值,其行为模式相似接触模式,其中SIC mode的优点是避免接触模式中常会因为在扫描时附著力的改变所造成的不稳定,藉由安全距离高於附著力,使针头可以完全脱离表面来量测样品的附著力。既使软性探针也可以使用此模式。然而软硬度和附著力可以在每个测量点下量测,软硬度 (即受立即样品变形的比值) 可以使用Soft Meca software去计算Young modulus。 
https://www.amtech.com.tw/cn/custom_80403.html 原子力显微镜 - 基本原理 原子力显微镜 - 基本原理                      AFM工作原理     AFM是由Binnig等人於1986年所发明的,具有原子级解像能力,可应用於多种材料表面检测,并能在真空、气体或液体环境中操作。     AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在数十至数百微米,通常由矽或者氮化矽构成,其上载有探针,探针之尖端的曲率半径则在奈米量级。当探针被放置到样品表面附近的地方时,悬臂上的探针头会因为受到样品表面的力而遵从虎克定律弯曲偏移。     在不同的情况下,这种被AFM测量到的力可能是机械接触力、范德华力、毛吸力、化学键、取向力、静电力、磁力(见磁力显微镜)卡西米尔效应力、溶剂力等等。如图一                                                                   图一、原子间作用力不同其之间能量表示也不同     通常,偏移会由射在微悬臂上的雷射束反射至光敏二极体阵列而测量到,较薄之悬臂表面常镀上反光材质(如铝)以增强其反射。其他方法还包括光学干涉法、电容法和压电效应法。这些探头通常由采用压电效应的变形测量器而制得。通过惠斯登电桥,探头的形变可以被测得,不过这种方法没有雷射反射法或干涉法灵敏。          AFM可以在不同模式下运行。这些模式可以被分为静态模式(Static Mode,也称接触模式,Contact Mode),或其他一系列动态模式(Dynamic Mode,如非接触模式(Non-Contact Mode)、轻敲模式(Tapping Mode)、侧向力(Lateral Force Mode)模式)。取自维基百科
https://www.amtech.com.tw/cn/custom_81215.html CAFM - Conductive AFM 导电式原子力显微镜 CAFM - Conductive AFM 导电式原子力显微镜 CAFM (导电式原子力显微镜)  操作原理CAFM (Conductive AFM) 属於AFM接触模式使用导电性针头扫描样品来纪录表面形貌,并利用导电性探针及内部放大器纪录表面电流变化,电流/电压曲线可以在样品的区域上被探测
https://www.amtech.com.tw/cn/custom_81212.html EFM - Electrostatic Force Microscope 静电力显微镜 EFM - Electrostatic Force Microscope 静电力显微镜 EFM (静电力显微镜) 操作原理EFM(Electrostatic Force Microscope) 静电力显微镜 属於AFM非接触模式使用电性针头扫描样品来纪录表面形貌,当探针经过样品同时记录样品表面上电场对探针共振频率所抵销的相位讯号
https://www.amtech.com.tw/cn/custom_81213.html MFM - Magnetic Force Microscope 磁力式显微镜 MFM - Magnetic Force Microscope 磁力式显微镜 MFM (磁力式显微镜) 操作原理MFM ( Magnetic Force Microscope ) 磁力式显微镜 属於AFM非接触模式使用磁性针头扫描样品来纪录表面形貌,当探针经过样品同时记录样品表面上磁力对探针共振频率所抵销的相位讯号
https://www.amtech.com.tw/cn/custom_81216.html PFM - Piezoresponse Force Microscope 压电力显微镜 PFM - Piezoresponse Force Microscope 压电力显微镜 PFM (压电力显微镜) 操作原理PFM (Piezoresponse Force Microscope) 压电力显微镜 属於AFM接触模式使用导电性针头扫描样品来纪录表面形貌,并利用导电性探针纪录表面因为压电效应所产生的电性频率,压电特性图成像利用压电效应所产生的电性频率跟AC交流电频率所抵销的相位讯号差